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是德科技E4991A射频阻抗/材料分析仪提供终极阻抗测量性能和强大的内置分析功能。它将为评估3 GHz范围内元件的R&D元件和电路设计人员提供创新。E4991A使用RF-IV技术，而不是反射测量技术，在较宽的阻抗范围内进行更精确的阻抗测量。基本阻抗精度为+/-0.8%。高Q精度支持低损耗元件分析。内部频率合成器以1 mHz的分辨率扫描1 MHz至3 GHz的频率。

材料评估:Agilent E4991A在宽频率范围(1 MHz至1 GHz)内提供全面的电介质/磁性材料测量解决方案。

晶片上测量:是德科技E4991A-010(安捷伦)探针台连接套件使我们能够轻松地将是德科技E4991A(安捷伦)连接到Cascade Microtech的射频探针系统，以进行晶圆阻抗测量。

温度特性评估:温度特性测试套件E4991A-007是一种用于测量元件和材料温度特性的新解决方案。该选项在-55°C至+150°C的宽温度范围内提供高度精确的温度特性分析能力，并具有强大的温度漂移补偿功能。

是德科技E4991A射频阻抗/材料分析仪的主要规格包括:

• 基本精度:

  • +/- 0.8 %基本精度

• 扫描参数

  • 频率:1兆赫至3千兆赫

  • 振荡器电平:最高1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms

  • DC偏置电平(选项E4991A-001): +/- 40V或+/- 50 mA

• 更多功能

  • Windows风格的用户界面

  • 内置VBA编程功能

  • 通过局域网接口传输数据

• 多功能测量选项

  • 电介质/磁性材料测量(选项E4991A-002)

  • 可靠的片上测量(选项E4991A-010)

  • 温度特性测量(选项E4991A-007)